Nikon Metrology a apporté des améliorations importantes à son nouveau système de Tomographie Numérique (TN) par rayons X, microfocus, de 225 kV pour créer le XT H 225 ST 2x. Deux caractéristiques que l’on ne trouve dans aucun autre système de TN industrielle : la première, appelée Rotating.Target 2.0, utilise un refroidissement encore plus efficace tout en maîtrisant la taille de la tâche focale, jusqu’à trois fois plus petite pour des images toujours plus claires ; et la seconde, le Half.Turn CT, est une nouvelle méthode permettant de diviser quasiment par deux l’angle de rotation d’un échantillon pendant l’acquisition, ce qui accélère le processus tout en conservant une qualité d’image optimale.
Plus simple d’utilisation et offrant un rendement multiplié par deux, ce nouveau système ouvre la porte à de très nombreuses applications, des laboratoires de musées à la R&D, de l’atelier de fabrication au monde universitaire. L’avantage intrinsèque de la TN par rayons X est qu’elle permet d’inspecter l’intérieur et l’extérieur d’un échantillon et ce, de manière non destructive. Le XT H 225 ST 2x permet, grâce à des milliers d’heures de tests rigoureux, d’adapter une qualité de résultat optimale fonction de la pièce à étudier.
L’innovation Rotating.Target 2.0 permet de collecter des données d’une qualité maximale en renforçant la résolution des images. Les périodes de fonctionnement sont deux fois plus longues avant maintenance, augmentant significativement la disponibilité de l’équipement tout en réduisant les coûts d’utilisation. Ce système de rotation de la cible permet de dissiper plus efficacement la chaleur générée un point focal plus petit, permettant d’émettre des rayons X en continu et à plus forte puissance, augmentant considérablement la vitesse et la résolution du scan, sans d’indispensables pause de refroidissement.
Jusqu’à quatre cibles, facilement interchangeables par l’utilisateur, peuvent être montée sur un même tube source. La cible réfléchissante est proposée de série avec une taille de point focal de 3 µm. Cette solution offre la puissance et la résolution nécessaire pour de nombreuses applications. D’un autre côté, la cible rotative offre une taille de point focal trois fois plus petite à partir de 30W, ce qui permet d’obtenir des images nettes à forte puissance avec un temps d’acquisition réduit. La cible en transmission offre, quant à elle, la plus petite tâche focale descendant jusqu’à 1 μm, pour une finesse d’image encore supérieure. Enfin, la cible multi-matériaux, pour les émissions de rayons X à faible énergie dédiés à l’analyse des matériaux, peut également être montée.
Une autre caractéristique, Local.Calibration, permet une calibration rapide et automatisée de la taille des voxels, quelle que soit la position de scan de la TN, évitant à l’utilisateur d’avoir à le faire manuellement. Idéale pour les applications en métrologie avec une précision des mesures radicalement améliorée, cette innovation offre également l’avantage de pouvoir suivre de rigoureuses procédures sans aucune qualification requise tout en assurant la traçabilité de l’incertitude.
Le nouveau système de TN par rayons X de Nikon Metrology, le XT H 225 ST 2x, propose une combinaison unique de cinq fonctions innovantes pour être encore plus convivial et offrir une durée de fonctionnement maximale
Afin d’augmenter la disponibilité du système par TN, Nikon a travaillé à l’amélioration de la durée de vie du filament via Auto.Filament Control, qui double la durée de vie du filament, permettant ainsi de diminuer les coûts d’utilisation tout en augmentant la disponibilité du système sans rien perdre de la résolution du microfocus. L’introduction des coupelles de filament, prêtes à être installées, grâce au dispositif Quick.Change, permet de réduire considérablement les temps de remplacement du filament. Cette procédure dès plus pratiques, est facilement répétable et ne nécessite aucune qualification de l’opérateur, éliminant de fait l’erreur humaine. De plus, les ingénieurs de Nikon Metrology ont aligné et conditionné les filaments eux-mêmes pour proposer des performances optimales.
De plus, l’innovation Half.Turn CT permet de conserver, avec seulement 180° de rotation de l’objet pour une acquisition, la qualité d’image habituellement obtenue sur 360°. On multiplie ainsi par deux l’efficacité de l’inspection en augmentant de cent pour cent la vitesse d’acquisition des données, amélioration significative à destination du monde la production !
Le XT H 225 ST 2x propose également une fonction de réglage motorisé du FID (distance source - détecteur) pour éviter que l’utilisateur n’ait à augmenter la puissance des rayons X (et en même temps la taille de la tâche focale), ou d’allonger les temps d’exposition du détecteur, allongeant les temps de scan, pour compenser le fait que l’intensité des rayons X diminue d’autant que la distance source – détecteur augmente. On peut ainsi, sélectionner une FID plus courte pour des durées de scan plus courtes, ou choisir de conserver un meilleur rapport signal/bruit pour une puissance d’émission des rayons X réduite.
Le logiciel Inspect-X, développé en interne par Nikon Metrology, est conçu pour fluidifier le processus d’acquisition et de reconstruction des données de la TN. L’accent est mis sur l’intelligence et la simplification de l’interface afin d’aider les utilisateurs novices et en ne proposant que les informations nécessaires à l’utilisation du système. Les utilisateurs expérimentés peuvent toutefois accéder à tous les réglages, paramètres (source et détecteur) et mode d'acquisition pour la plus grande des polyvalences.
