Le résultat de cette collaboration soutenue par
RENISHAW, un des principaux acteurs de la Métrologie mondiale, et Metrologic Group ® principal éditeur indépendant de logiciel de mesure 3D, est la mise sur le marché d'une solution unique d'équipement de machine à mesurer 3D (MMT) destinée au scanning.
Cette collaboration permet de combiner la puissance du contrôleur universel de scanning UCC et la gamme de palpeurs de Renishaw, avec le logiciel de métrologie Metrolog II® mondialement reconnu.
Les possesseur de MMT ont maintenant la possibilité de s'équiper d'une solution de scanning à prix abordable qui minimise le temps de cycle tout en maintenant une précision optimale.
Le logiciel de mesure Metrolog II® offre une large gamme d'outils très performants tels que : Mesure et analyse en ligne, programmation hors ligne, moteur DMIS, module d'analyse de tolérancement géométrique, éditeur de rapports paramétrable, mesure et analyse surfacique, interface natif avec tout type de CAO ainsi qu'un module de simulation comprenant toute la gamme des outils et accessoires Renishaw et une large palette de modèles de machines.
Cet ensemble de retrofit sera disponible à travers le réseau de distribution de Metrologic et les sociétés de retrofit certifiées par Renishaw.
Ben Taylor, le Directeur Général adjoint de Renishaw commente cet accord en ces mots : «
Ceci est une nouvelle étape importante dans notre volonté de mettre sur le marché des solutions de scanning abordables. Les utilisateurs peuvent maintenant avoir la combinaison d'un scanning à haute vitesse et grande précision sans payer le prix élevé qui a été jusqu'à aujourd'hui une barrière d'entrée à cette technologie pour une majorité de sociétés.
Notre accord logiciel avec Metrologic Group ® ouvre la route au développement de ce nouveau style de retrofit et assure à Metrolog II® de tirer tous les avantages techniques de la nouvelle génération de palpeurs de scanning de Renishaw.
Nous sommes impatients de livrer cet ensemble qui combine la puissance et la facilité d'utilisation de Metrolog II® avec les technologies de scanning haute vitesse et haute précision brevetées par Renishaw qui profiteront à tous les utilisateurs. »
